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導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。 離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHO